環(huán)境試驗(yàn)要求
    不同的測(cè)試環(huán)境條件將會(huì)對(duì)產(chǎn)品產(chǎn)生不同的影響以及產(chǎn)生不同的故障，比如：高溫測(cè)試條件下產(chǎn)品的器件發(fā)生以下影響 老化、氣化、龜裂、軟化、溶融、膨脹蒸發(fā)等，對(duì)應(yīng)的汽車(chē)將會(huì)出現(xiàn)電路系統(tǒng)絕緣不良、機(jī)械的故障、機(jī)械的應(yīng)力增加。 低溫測(cè)試條件下產(chǎn)品的器件發(fā)生以下影響 脆化、結(jié)冰、收縮凝固，機(jī)械強(qiáng)度降低等，對(duì)應(yīng)的汽車(chē)將會(huì)出現(xiàn)電路系統(tǒng)絕緣不良、龜裂機(jī)械故障、密封故障等。
常見(jiàn)的環(huán)境可靠性測(cè)試項(xiàng)目
01.高溫試驗(yàn)            低溫試驗(yàn)
溫濕度儲(chǔ)存試驗(yàn)   溫濕度循環(huán)試驗(yàn)
02.鹽霧試驗(yàn)       沙塵(防塵)試驗(yàn)
熱沖擊試驗(yàn)    耐候耐光試驗(yàn)
03.耐燃試驗(yàn)    泥水試驗(yàn)
結(jié)露試驗(yàn)    雨淋(防水)試驗(yàn)
04.高變率溫度循環(huán)試驗(yàn)                熱空氣老化試驗(yàn) 
鹽/溫.復(fù)和試驗(yàn)    
05.氣體腐蝕試驗(yàn)     浸水/滲水試驗(yàn)
     而由于汽車(chē)不同部位的環(huán)境可靠性要求不同，如：對(duì)于溫度環(huán)境條件，汽車(chē)前儀表板上部要求大須120℃、下部71℃，客艙底板部位105℃等。所以對(duì)于不同用途、不同安裝部位的汽車(chē)電子產(chǎn)品，其環(huán)境可靠性測(cè)試條件也不盡相同。下表列出了一些常見(jiàn)汽車(chē)電子產(chǎn)品的主要測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試條件。
汽車(chē)電子產(chǎn)品的常用測(cè)試條件
機(jī)車(chē)用IC：–40℃～125℃ 、風(fēng)吹、日曬、高震動(dòng)  
儀表板操作試驗(yàn):-40℃～ 85℃
馬達(dá)控制器試驗(yàn)條件：操作試驗(yàn)溫度：40℃～ 110℃
 車(chē)用藍(lán)牙耳機(jī)試驗(yàn)條件：保存試驗(yàn)溫度：-40℃～+85 ℃， 操作試驗(yàn)溫度-20℃～+65℃
 衛(wèi)星定位(GPS) 試驗(yàn)條件：高溫操作試驗(yàn)溫度：85℃
低溫操作試驗(yàn)溫度：-40℃
胎壓傳感器：高溫操作試驗(yàn)溫度：125 ℃
低溫操作試驗(yàn)溫度：-40℃
衛(wèi)星定位(GPS)試驗(yàn)條件：
1.低溫操作試驗(yàn)：-40℃→常溫→70℃(2小時(shí))→ -20℃(2小時(shí))→常溫
2.高溫操作試驗(yàn)：85℃
車(chē)燈、儀表板：汽車(chē)儀表背光板操作試驗(yàn)：
R.T(1H)→RAMP(2H)→65℃/90±5﹪(4H)→RAMP(2H)→40℃/90±5﹪R.H.(10H)→RAMP(2H)→-30℃(2H) RAMP(1H)→R.T.(1H)
室內(nèi)燈：高溫保存110℃放置6H
高溫操作70℃/13.2V 點(diǎn)燈，連續(xù)12H
復(fù)合式振動(dòng)：-40℃～80℃4.4G 振幅2mm 頻率33.3Hz 上下振動(dòng)4H
車(chē)外燈操作試驗(yàn)：試驗(yàn)1.車(chē)外燈復(fù)合式操作：R.T(2H)→RAMP(1H)→80℃
(2H)→RAMP(2H) →-30℃(2H)→RAMP(1H)→R.T(2H)
試驗(yàn)2. 震幅2mm ，頻率33.3Hz ，加速度4.4G
試驗(yàn)3.車(chē)外燈溫度循環(huán)：R.T.(2H)→RAMP(45min)→-30℃

(2H) →RAMP(1.5H)→80℃(3H)→RAMP(45min)

三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)規(guī)格：